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簡(jiǎn)要描述:鍍層測厚儀X-Strata920系列,屬于X射線(xiàn)熒光鍍層厚度測量?jì)x,廣泛應用于PCB、FPC、LED、SMT、連接器、端子、五金產(chǎn)品、汽車(chē)零部件、衛浴潔具、珠寶等行業(yè)的表面鍍層厚度測量、材料分析;是各類(lèi)電鍍產(chǎn)品鍍層厚度測量的理想檢測工具。
產(chǎn)品分類(lèi)
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鍍層測厚儀X-Strata920系列具有高性?xún)r(jià)價(jià)比,有著(zhù)非破壞、非接觸、多合金測量、測量元素范圍廣、測量精準、測量時(shí)間短等特點(diǎn);具有高生產(chǎn)力、高再現性,能有效控制產(chǎn)品質(zhì)量,節約電鍍成本。
鍍層測厚儀X-Strata920工作特點(diǎn):
儀器參數
型號 | P920-S | P920-MWS | P920-MWM | P920-AM | |||
名稱(chēng) | 半自動(dòng) | 自動(dòng)臺 | |||||
固定臺 | 單準直器加深臺 | 多準直器加深臺 | |||||
樣品圖片 |
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測量元素范圍 | Ti22---U92 | ||||||
鍍層和成分分析 |
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測量方法 |
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X射線(xiàn)激發(fā) |
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成像系統 |
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計算機系統 |
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樣品臺規格 |
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儀器外形 寬×深×高 | 407×770×305mm | 407×770×400mm | 610×1037×375mm | ||||
Z軸 | 使用鼠標控制,程控移動(dòng)距離43mm | ||||||
準直器規格 |
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探測器 | 正比例計數器 | ||||||
工作原理 | 對被測樣品發(fā)射一束一次X射線(xiàn),樣品的原子吸收X射線(xiàn)的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線(xiàn)。每個(gè)化學(xué)元素會(huì )釋放出特定能量的X射線(xiàn)。通過(guò)測量這些釋放出的二次X射線(xiàn)的特征能量和強度,X射線(xiàn)分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析 | ||||||
安全性 |
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結果輸出 |
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